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芯片高低温老化试验箱

更新时间:2022-04-08

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厂商性质:生产厂家

生产地址:

简要描述:
芯片高低温老化试验箱,用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。
品牌豪恩分类高低温试验箱

一、芯片高低温老化试验箱可程式定义说明

可程式是针对定值试而言的,可程式高低温试验箱的具体表现为,可对试验程序进行编程,以便在试验的进程中,通过编程的控制,来对试验进行自动化运作。

比如:客户是做LED背光源的,需要进行的试验程序为,80℃高温条件下进行8个小时的试验,-40℃的低温环境下进行4个小时的试验,再进行90℃的高温环境下进行4个小时的试验,要满足上述的多项试验要求,而且是在不间断的情况下进行试验,就可在试验运行开始之前,在高低温试验箱的控制器上进行试验程序编程,高低温试验箱会根据试验程序,进行精确的试验。

二、芯片高低温老化试验箱性能:

指气冷式在室温20℃,空载时

规格型号:HE-WS-80/100/150/225/408/800/1000(A、B、C、D、E)

容量:

80升内箱尺寸(宽*高*深):400X500X400mm

150升内箱尺寸(宽*高*深):500X600X500mm

225升内箱尺寸(宽*高*深):600X750X500mm

408升内箱尺寸(宽*高*深):600X850X800mm

800升内箱尺寸(宽*高*深):1000X1000X800mm

1000升内箱尺寸(宽*高*深):1000X1000X1000mm

温度范围:

A表示:0℃~+150℃,B表示:-20℃~+150℃,C表示:-40℃~+150℃,

D表示:-60℃~+150℃,E表示:-70℃~+150℃

温度精度:±0.01℃

温度波动度:±0.5℃

温度均匀度:±2.0℃

湿度范围:20%RH~98%RH

湿度精度:±0.1%R.H

湿度波动度:±2.0%R.H.

湿度均匀度:±3%R.H.

升温速率:平均3℃/min(非线性、空载时;从常温+25℃升至+85℃约20min);可按要求定制非标规格

降温速度:平均1℃/min(非线性、空载时;从常温+25℃降至-40℃约65min);可按要求定制非标规格

三、使用注意事项:

1.在操作当中,除非有必要,请不要打开箱门,否则可能导致不良的后果。

2.请注意本机必须安全确实接地,以免产生静电感应。

3.避免于五分钟内关闭再开启冷冻机组。

4.如果箱内放置发热试品时,试品电源控制请使用外加电源,不要直接使用本机电源。放入高温试料作低温试验时应注意:开启箱门的时间要尽可能的短。

5.电路断路器、超温保护器,提供本机测试品以及操作者的安全保护,故请定期检查。

6.禁止试验爆炸性,可燃性及高腐蚀性物质。

7.照明灯除必要时打开外,其余时间应关闭。

8.在做低温前,应将工作室擦干,60℃时烘干1小时。

9.做高温试验时,当温度超过55℃以上的情况下,切忌不可开启冷机。

10.请详细阅读说明书,方可操作本机。


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